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       X熒光光譜儀是一款可應(yīng)用于多種類樣品檢測(cè)的儀器，無(wú)論對(duì)于固體、液體、粉塵、氣體等均可以進(jìn)行有效分析。其進(jìn)行樣品檢測(cè)的方式是怎么樣的呢？

固體樣品假如大小外形合適可以挺直分析，外形不規(guī)章可以經(jīng)過(guò)容易的切割達(dá)到X熒光光譜儀的要求，只需舉行表面處理，液體樣品可以挺直分析，大氣塵埃通常收集在濾膜上挺直舉行分析，而粉末樣品的制樣辦法就比較復(fù)雜，通常需要經(jīng)過(guò)壓片處理。

X熒光光譜儀的土壤檢測(cè)分析

       工作曲線的制作和校正根據(jù)儀器的操作規(guī)程開啟儀器，并預(yù)熱儀器直至儀器穩(wěn)定。挑選與測(cè)試樣品基體相匹配的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)光譜儀的優(yōu)化測(cè)量條件，用X射線熒光光譜儀測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)樣品中待分析元素的熒光強(qiáng)度，按照標(biāo)準(zhǔn)祥品所給定的標(biāo)準(zhǔn)值和光譜儀所測(cè)得的強(qiáng)度制作工作曲線。電子電氣產(chǎn)品涉及的材料品種十分之多，分析元素的特征譜線常受到來(lái)自測(cè)試樣品中的基體影響、元素間譜線重疊干擾等因素影響，這些影響因素可通過(guò)工作曲線的校正，詳細(xì)可以通過(guò)背景扣除法、基本參數(shù)法、閱歷系數(shù)法等校正辦法舉行干擾校正。

       待測(cè)樣品的采譜測(cè)定將待測(cè)樣品放在樣品室內(nèi)舉行測(cè)試。假如樣品是液態(tài)、粉末或顆粒，或者只是一很小的樣品，它需要在帶有不行重復(fù)用法薄膜的樣品杯里舉行測(cè)量。操作這個(gè)窗口薄膜時(shí)，當(dāng)心不要接觸它的表面以免對(duì)其造成污染。全部樣品必需徹低籠罩光譜儀的測(cè)量窗口，對(duì)于輕合金起碼達(dá)到4mm厚，密度較大的合金起碼1mm厚，塊狀塑料1cm厚，粒狀塑料放樣品杯里2cm厚，液態(tài)、粉末基本上填滿樣品杯。