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       X射線熒光光譜儀具有不破壞樣品，準(zhǔn)確度高，分析速度快，能測定固體、粉末和液體樣品，能適用于常量和微量元素測定等優(yōu)點(diǎn)，被人們廣泛的重視利用。手持式光譜儀利用X熒光光譜技術(shù)，可在礦區(qū)的勘探檢測上有很好的應(yīng)用。

       土壤巖石濕度對測量效果的影響

       濕度效應(yīng)是指被測土壤巖石對象中含水量的變化引起X熒光測量結(jié)果的變化，其影響機(jī)理是水（相對于空氣）對元素特征X射線的吸收和水（相對于空氣）對激發(fā)源初級射線散射的增強(qiáng)。當(dāng)測量對象是室內(nèi)預(yù)先制備的粉末樣品時(shí)，其濕度效應(yīng)很小可忽略不計(jì)，但對現(xiàn)場X熒光光譜測量,其測量對象是天然巖石或土壤，當(dāng)濕度變化較大時(shí)，則不可忽視。一般在早晨和中午，由于日照和溫度的影響，巖石土壤濕度不同；雨前和雨后，由于大氣降水和巖石土壤對水分不同程度的吸收，濕度變化更大。

       巖石的露頭測量與粉末樣測量結(jié)果

       在進(jìn)行現(xiàn)場巖石X射線熒光光譜測量時(shí)，測量面的平整度和新鮮度亦會(huì)影響測量效果。測量面的平整度影響表現(xiàn)在：當(dāng)探頭有效測域內(nèi)的巖面凹凸不平時(shí)，將使探頭內(nèi)激發(fā)源到測量面上各點(diǎn)的距離（即原樣距）不同，同時(shí)也造成測量面上各點(diǎn)產(chǎn)生的特征X射線或者散射線到達(dá)探測器的距離各不相同，從而影響X熒光的測量效果。測量面的新鮮度影響表現(xiàn)在：當(dāng)巖石、礦石表面存在粉塵或其他污染物時(shí)，不但可屏蔽初級射線進(jìn)入到巖、礦石表面，也屏蔽了來自礦石發(fā)出的目標(biāo)元素特征X射線，從而使原位X輻射取樣產(chǎn)生很大的誤差。當(dāng)圍巖粉塵覆蓋在礦石表面時(shí)，主要是吸收初級和次級射線，使取樣結(jié)果偏低；而礦層粉塵吸附在礦段或者圍巖表面時(shí)，則造成取樣結(jié)果偏高的假象。由于地表的氧化或風(fēng)化作用，一般巖石、礦石表面都會(huì)不同程度地形成氧化面或風(fēng)化層，會(huì)降低X熒光光譜的測量效果。因此在進(jìn)行X熒光光譜測量時(shí)，應(yīng)盡可能選擇平整和新鮮巖石表面。

       以上，就是本次為大家?guī)淼年P(guān)于手持式光譜儀在礦區(qū)勘探上的應(yīng)用的另外2部分注意點(diǎn)。